Książki autorstwa Dale E. Newbury

Znaleziono 1 – 9 z 9 pozycji

1. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott | Springer-Verlag New York Inc., 2017

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 11 - 13 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   528.76 zł

   Kup książkę
2. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Dale E. Newbury, David C. Joy | Springer Science+Business Media, 2002

   
   

   Na zamówienie - Wysyłamy za 3 - 5 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   557.98 zł

   Kup książkę
3. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   564.63 zł

   Kup książkę
4. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2018

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 8 - 10 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   481.01 zł

   Rabat 0 %

   Oszczędzasz 0.02 zł

   Kup książkę
5. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   639.17 zł

   Kup książkę
6. 

   X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David B. Williams | Springer Science+Business Media, 1995

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   1122.01 zł

   Kup książkę
7. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   564.63 zł

   Kup książkę
8. 

   Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

   Charles E. Lyman, Dale E. Newbury, Joseph Goldstein, David B. Williams | Springer Science+Business Media, 1990

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   564.63 zł

   Kup książkę
9. 

   X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David B. Williams | Springer-Verlag New York Inc., 2012

   
   

   Dostępna u dostawcy - Wysyłamy za 14 - 18 dni

   Język: Angielski

   Oprawa: Miękka

   1116.87 zł

   Kup książkę

Informujemy Cię o zmianach w statusie zamówienia. Zobacz więcej